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深圳市泰立仪器仪表有限公司
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产品名称:德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

产品型号:XDL 240

产品报价:

产品特点:德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪采用自动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

XDL 240德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪的详细资料:

德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240

射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用自动方

式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层

及大规模生产的零部件上的镀层。

 

德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

简介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及

材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自

动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄镀层,例如:装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 全自动测量,如测量印刷线路板

• 分析电镀溶液

XDL 240 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。

由于采用了 FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样

品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 X-

工作台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的 Z 轴系

统,可编程运行。

高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频

窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测

量位置。

测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测

量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调

整。

所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能

强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。

XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合

德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

 

德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

通用 规格

设计用途 能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液

分析。

元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92)

配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时,zui多可同时测定 24 种元素

设计理念 台式仪器,测量门向上开启

测量方向 由上往下

X  射线源

射线管  带铍窗口的钨管

高压 三档: 30 kV40 kV50 kV

孔径(准直器) Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm Ø 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm

测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小,

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

zui小的测量点大小约 Ø 0.2mm

X  射线探测

射线接收器

测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保护的 DCM 测量距离补偿法

样品定位

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置

手动聚焦,对被测位置进行监控

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)

可调节亮度的LED照明,激光光点用于精确定位样品

放大倍数 40x  160x

电气参数

电源要求 220 V 50 Hz

功率 zui大 120 W (不包括计算机)

保护等级 IP40

尺寸规格

外部尺寸 宽×深×高[mm]570×760×650

内部测量室尺寸 宽×深×高[mm]460×495x(参考“样品zui大高度”部分的说明)

重量 120 kg

环境要求

使用时温度 10° 40°C

存储或运输时温度 0° 50°C

空气相对湿度 ≤ 95 %,无结露

工作台

设计 马达驱动,可编程 X/Y 平台

255 x 235 mm

 80 mm/s

 0.01 mm 单向

300 x 350 mm

马达驱动,可编程运行

140 mm

5 kg,降低精度可达 20kg

140 mm

X/Y 平台zui大移动范围

X/Y 平台移动速度

X/Y 平台移动重复精度

可用样品放置区域

轴移动范围

样品zui大重量

样品zui大高度

激光(级)定位点

计算单元

计算机 带扩展卡的 Windows ® 计算机系统

软件 标准: WinFTM ® V.6 LIGHT

可选: WinFTM ® V.6 BASICPDMSUPER

执行标准

CE 合格标准  EN 61010

型式许可 作为受完全保护的仪器

型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

 

德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

订货号

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498

如有特殊要求,可与 FISCHER 磋商,定制特殊的 XDL 型号。

FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ®  Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen  Germany 的注册商标。

Windows ®  Microsoft Corporation 在美国及其他地区的注册商标。

 

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